作者：潘一諾 專利代理人
專利權(quán)是發(fā)明創(chuàng)造人或其權(quán)利受讓人對(duì)特定的發(fā)明創(chuàng)造在一定期限內(nèi)依法享有的獨(dú)占實(shí)施權(quán)。專利權(quán)人對(duì)其擁有的專利權(quán)享有獨(dú)占或排他的權(quán)利，未經(jīng)其許可或者出現(xiàn)法律規(guī)定的特殊情況，任何人不得使用，否則即構(gòu)成侵權(quán)。而專利權(quán)的范圍是專利權(quán)人能否有效行使其專利權(quán)的關(guān)鍵所在。
根據(jù)《專利法》第五十九條的規(guī)定，發(fā)明或者實(shí)用新型專利權(quán)的保護(hù)范圍以其權(quán)利要求的內(nèi)容為準(zhǔn)，說明書及附圖可以用于解釋權(quán)利要求的內(nèi)容。根據(jù)《最高人民法院關(guān)于審理侵犯專利權(quán)糾紛案件應(yīng)用法律若干問題的解釋》第七條的規(guī)定，人民法院判定被訴侵權(quán)技術(shù)方案是否落入專利權(quán)的保護(hù)范圍，應(yīng)當(dāng)審查權(quán)利人主張的權(quán)利要求所記載的全部技術(shù)特征。由此可見，權(quán)利要求中的特征限定對(duì)是否構(gòu)成專利侵權(quán)的認(rèn)定起到了重要的作用。
通常，技術(shù)方案中的技術(shù)特征可以采用不同的描述方式來進(jìn)行限定。對(duì)此，如何描述權(quán)利要求的特征使其具有“易測(cè)易現(xiàn)”的特點(diǎn)從而能夠在侵權(quán)比對(duì)中減少證明難度，是專利權(quán)利要求撰寫需要考量的問題。
下述案例，幫助我們深入思考權(quán)利要求中技術(shù)特征限定的確定。
申請(qǐng)?zhí)枮?01511000550.4、發(fā)明名稱為“觸控顯示裝置、觸控顯示面板及陣列基板”的發(fā)明專利，發(fā)明人的技術(shù)方案提供了“一種自容式內(nèi)嵌觸控過孔設(shè)計(jì)方式”。該設(shè)計(jì)方式所要解決的問題是：由于觸控引線110采用截?cái)嗍椒绞?，使得區(qū)域121和區(qū)域122的過孔130數(shù)量差異較大，導(dǎo)致顯示畫面出現(xiàn)顯示不均的問題（現(xiàn)有技術(shù)如下圖所示）。該設(shè)計(jì)方式的技術(shù)方案為：在觸控引線110之間設(shè)置具有過孔的輔助觸控引線，以均勻過孔密度。
●該方案獨(dú)權(quán)的一種撰寫方式可以是：
1、一種陣列基板，其特征在于，包括：
基板；
多個(gè)像素單元，設(shè)置在所述基板上；
公共電極層，包括第一過孔區(qū)和第二過孔區(qū)，所述公共電極層被分割成多個(gè)自電容電極，每個(gè)所述自電容電極覆蓋多個(gè)像素單元：
驅(qū)動(dòng)電路，驅(qū)動(dòng)所述自電容電極；
多根觸控引線，通過第一過孔連接相應(yīng)的所述自電容電極，并將所述自電容電極連接到所述驅(qū)動(dòng)電路，其中：
在所述第一過孔區(qū)，沿所述觸控引線方向或垂直所述觸控引線方向的相鄰兩個(gè)第一過孔之間具有多個(gè)像素單元；
在所述第二過孔區(qū)，所述觸控引線為連續(xù)的并貫穿所述第二過孔區(qū)內(nèi)整列自電容電極，并不設(shè)置所述第一過孔；
多根輔助引線，位于相鄰兩根觸控引線之間，通過第二過孔連接所述自電容電極，其中：
所述第一過孔區(qū)中的單位像素單元的第二過孔的數(shù)量小于所述第二過孔區(qū)中的單位像素單元的第二過孔的數(shù)量。
該獨(dú)權(quán)的撰寫方式中，將技術(shù)方案的所要解決的技術(shù)問題中的區(qū)域121限定為第一過孔區(qū)和區(qū)域122限定為第二過孔區(qū)?？梢岳斫?，區(qū)域的劃分若不經(jīng)過限定是無法在產(chǎn)品上直接能夠獲得的，為了在后續(xù)侵權(quán)認(rèn)定中，該方式通過獲得的產(chǎn)品即可區(qū)分該第一過孔區(qū)和該第二過孔區(qū)，在權(quán)利要求中通過第一過孔區(qū)和第二過孔區(qū)內(nèi)的觸控引線的和第一過孔的不同設(shè)置來進(jìn)行限定和描述。
然而，由于在本技術(shù)方案中，第一過孔區(qū)和第二過孔區(qū)是非實(shí)體概念，其范圍和劃分并非如顯示區(qū)和非顯示區(qū)那般顯而易見，因此，在即使對(duì)第一過孔區(qū)和第二過孔區(qū)進(jìn)行描述，也有可能會(huì)產(chǎn)生歧義進(jìn)而增加后續(xù)侵權(quán)認(rèn)定的難度。
為了減少獨(dú)權(quán)的特征描述的歧義并降低侵權(quán)認(rèn)定難度，提供獨(dú)權(quán)的另一種撰寫方式：
1、一種陣列基板，其特征在于，包括：
基板；
多個(gè)像素單元，設(shè)置在所述基板上；
多列觸控電極，每列所述觸控電極包括X個(gè)觸控電極，每個(gè)所述觸控電極覆蓋多個(gè)所述像素單元：
驅(qū)動(dòng)電路，驅(qū)動(dòng)所述觸控電極；
觸控引線，通過第一過孔連接至對(duì)應(yīng)的觸控電極，并將對(duì)應(yīng)的所述觸控電極連接至所述驅(qū)動(dòng)電路；
對(duì)于每一列所述觸控電極，所述觸控引線貫穿第1個(gè)至第x個(gè)所述觸控電極并與第x個(gè)所述觸控電極對(duì)應(yīng)時(shí)：
所述觸控引線在第x個(gè)至第X個(gè)所述觸控電極的相鄰觸控電極之間斷開，并在第x+1個(gè)至第X個(gè)所述觸控電極上設(shè)置第二過孔，使每段所述觸控引線通過所述第二過孔連接至所述第二過孔所在的所述觸控電極；
至少一根輔助引線，位于相鄰兩根觸控引線之間，所述輔助引線通過第三過孔連接至所述第三過孔所在的所述觸控電極，且在相鄰觸控電極之間斷開，其中：
對(duì)于每一列所述觸控電極，在所述第1個(gè)至第x-1個(gè)觸控電極上設(shè)置輔助過孔，使得位于與第x個(gè)所述觸控電極對(duì)應(yīng)的所述觸控引線旁的所述輔助引線通過所述輔助過孔連接至所述輔助過孔所在的觸控電極，
其中，X為大于等于2的整數(shù)，且當(dāng)X大于2時(shí)，x為2至X-1之間的整數(shù)。
在該獨(dú)權(quán)的撰寫方式中，放棄了對(duì)兩個(gè)區(qū)域的特征限定，由于兩個(gè)區(qū)域是由觸控引線、觸控電極和過孔的不同設(shè)置而劃分的，因此，可以選擇跳脫出發(fā)明人提供的技術(shù)方案的描述，通過另一個(gè)方向，即對(duì)觸控引線、觸控電極和過孔進(jìn)行限定描述。相比于“區(qū)域”這個(gè)非實(shí)體概念，觸控引線、觸控電極及過孔都是實(shí)際可以觀察、測(cè)量的實(shí)體結(jié)構(gòu)。由此，通過描述實(shí)體結(jié)構(gòu)來避免對(duì)區(qū)域限定的歧義，進(jìn)而減少后續(xù)侵權(quán)認(rèn)定的難度。
綜上所述，權(quán)利要求中對(duì)于特征的描述應(yīng)充分考量其對(duì)于后續(xù)侵權(quán)取證難易程度的影響。當(dāng)技術(shù)方案特征可以通過實(shí)體概念和非實(shí)體概念進(jìn)行描述時(shí)，可以優(yōu)先選擇“易測(cè)易得”的實(shí)體概念進(jìn)行描述，由此來減少針對(duì)該特征的侵權(quán)取證難度。即使選擇對(duì)非實(shí)體概念進(jìn)行描述，也應(yīng)采用“易測(cè)易得”的限定方式進(jìn)行限定，以便認(rèn)定侵權(quán)。